基本信息
| 标准名称： | 微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法 |
| 英文名称： | Microbeam analysis—Determination method for quantitative analysis parameters of SEM-EDS |
| 中标分类： | 仪器、仪表 >> 物质成分分析仪器与环境监测仪器 >> 电化学、热化学、光学式分析仪器 |
| ICS分类： | 化工技术 >> 分析化学 >> 有关化学分析方 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2010-09-26 |
| 实施日期： | 2011-08-01 |
| 首发日期： | 2010-09-26 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 提出单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： | 全国微束分析标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国地质科学院矿产资源研究所 |
| 起草人： | 周剑雄、陈振宇 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2011-08-01 |
| 页数： | 12页 |
适用范围
本标准规定了扫描电镜-能谱仪化学成分定量分析相关参数的测定方法。
本标准适用于对扫描电镜中影响定量分析性能的相关参数和能谱仪基本参数的测定,并以元素成分定量分析结果对仪器做出综合分析。
前言
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目录
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引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T4930 微束分析 电子探针分析 标准样品技术条件导则
GB/T17359—1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
GB/T20726 半导体探测器X射线能谱仪通则
JJF1001 通用计量术语及定义
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